Al aprobar este examen demostrarás competencia para utilizar técnicas de microscopía electrónica de barrido (SEM) y de transmisión (TEM) en la caracterización micro y nanométrica de materiales. Tendrás la capacidad de interpretar imágenes, identificar fases, analizar defectos y correlacionar la microestructura con las propiedades físicas y mecánicas de los materiales. Esta certificación puede incorporarse en tu perfil profesional o LinkedIn como evidencia de dominio en caracterización avanzada de materiales.
Objetivos
- Analizar los principios de funcionamiento y configuración de los microscopios SEM y TEM.
- Aplicar técnicas de preparación de muestras adecuadas para observación micro y nanoscópica.
- Interpretar imágenes y espectros obtenidos mediante SEM, TEM y EDS.
- Evaluar la microestructura, composición y defectos en materiales metálicos, cerámicos y compuestos.
Alcance
Comprende el estudio de fundamentos de microscopía electrónica, resolución y contraste de imagen, modos de operación SEM y TEM, análisis de difracción y espectroscopía EDS, así como la correlación entre microestructura, composición y desempeño del material.